【科创定位】688206 概伦电子专利技术保护趋势

2021年12月28日上市，688206  概伦电子，上海概伦电子股份有限公司目前市值155.91亿元，2022年三季度营业收入1.71亿元，净利润2928万元，研究经费8626万元，所属行业：半导体-半导体设备，最赚钱业务：其他业务。

主营产品: 公司的主营业务为向客户提供被全球领先集成电路设计和制造企业长期广泛验证和使用的 EDA 产品及解决方案，主要产品及服务包括制造类 EDA 工具、设计类 EDA 工具、半导体器件 特性测试仪器和半导体工程服务等。

1）发明专利：应用于集成电路器件的数据区域动态选取方法、系统、设备和计算机可读存储介质  申请号：CN202210485167.6  申请日：2022年5月6日 技术效果：通过本申请提出的技术方案，能够实现针对数据区域的动态化选取，去除了在数据区域选取过程中对于原始数据集的严格依赖，简化了针对不同集成电路器件进行数据区域选取的复杂度，提升了数据区域选取的通用性和复用性，适用范围广泛，具有可推广价值。

2）发明专利：集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置 申请号CN202210476110.X  申请日：2022年4月29日 技术效果：本发明实现了偏置数据的灵活选取，并且不额外增加流程设置复杂度。

3）发明专利：半导体器件模型测试数据的处理方法和装置  申请号：CN202210476033.8 申请日：2022年4月29日 技术效果：实现提取的自定义数据集的图形绘制、模型提取，通过测试数据集的实时更新，进行反复的迭代验证，得到可靠的模型提取参数。

4）发明专利：版图代码自动生成方法、系统、设备和计算机可读存储介质  申请号：CN202210476037.6 申请日：2022年4月29日 技术效果：通过本申请提出的技术方案，能够自动生成所需的器件版图代码，无需人工手动进行代码的编写，能够大幅度缩短集成电路版图的开发周期；由于采用了功能模块化的代码生成模式，使得输出的器件版图代码更为简介便于呈现和调试排错。同时，本技术方案还允许用户在预置的器件模板和结构模板的基础上叠加自建的器件模板和/或结构模板，增加了用户的使用灵活性，适用范围广泛，具有可推广价值。 

5）发明专利：半导体器件建模调参计算辅助方法、系统及装置  申请号：CN202210476060.5  申请日：2022年4月29日，  技术效果：本发明实现了利用优先级队列缓存调参信息，利用无效策略以及去重规则，将无效的计算消息请求剔除，以实现计算效率的提升及界面响应速率的提升。

6）发明专利：针对功能函数模块的实时可视化方法和系统  申请号：CN202210476032.3 申请日：2022年4月29日 技术效果：相比手动输入搭建模板，更加方便，结合图形化查看函数功能的manual更直观和更便捷。    

7）发明专利：基于跨阻放大电路的优化检测结构、芯片及电子设备  申请号：CN202210387049.1 申请日2022年4月14日 技术效果：通过本申请提出的技术方案，能够通过拓扑结构的改进，大幅度降低光MOS管间的开关压差，减少漏电流对于电流检测的影响，大幅度提升检测精度，具有可推广价值。    

8）发明专利：非易失存储介质的低成本实现结构、控制方法、芯片及电子设备 申请号：CN202111675557.1 申请日：2021年12月31日 技术效果：通过本技术方案，能够不依赖传统的FTP单元，由一次性可编程存储器实现有限次编辑（Few Time Programmable，FTP）功能，适用于擦写次数较少的应用场景，可靠性高，兼容普通技术工艺，具有可推广价值。  

9）发明专利：晶体管级电路仿真的方法和系统  申请号：CN202110691779.6 申请日：2021年6月22日 技术效果：所述方法包括：获取所述电路的描述文件，所述描述文件包括所述电路中器件和节点的信息；基于所述器件和所述节点的信息将所述电路划分为模拟分区和数字分区；为所述模拟分区建立第一仿真引擎，并且为所述数字分区建立与所述第一仿真引擎不同的第二仿真引擎；以及使用所述第一仿真引擎和所述第二仿真引擎分别对所述模拟分区和所述数字分区进行仿真。      

10）发明专利：用于提取集成电路器件的器件模型参数的方法和装置  申请号：CN202110614168.1  申请日：2021年6月2日 技术效果：提供针对所述集成电路器件的测试数据集；提供提取条件设置界面，所述提取条件设置界面包括多个提取条件域，其中每个提取条件域对应于一个测试条件；接收用户输入，所述用户输入用于对所述提取条件设置界面的多个提取条件域中的至少一个提取条件域进行设置或选择提取条件变量；至少基于所述用户输入设置或选择的提取条件变量生成一个提取条件模板，并且利用所述提取条件模板从所述测试数据集中筛选对应的测试数据以生成自定义测试数据集；以及用所述自定义测试数据集对所述集成电路器件的器件模型进行拟合，以生成所述集成电路器件的器件模型参数。 

【科创板科创定位】找余行事务所。【科创定位】找余行事务所。